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沈阳佳士科商贸有限公司

jasco shenyang Co.,LTD.

展位号: BIOON-e7b827b41812

展台参观: 20080

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膜厚测定装置

自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角

产品货号:UTS-2000 产地:日本分光(株)/JASCO 价格:询价 点击数:1760 商家询价

近接场光学显微分光系统

日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列,世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。

产品货号:NFS series 产地:日本分光(株)/JASCO 价格:询价 点击数:1681 商家询价